電漿蝕刻

電漿蝕刻是一種用於製造集成電路的電漿處理形式。它是將適當氣體混合物的高能輝光放電(電漿)高速脈衝噴射到樣品上。電漿源,稱為蝕刻物質,可以是帶電的(離子)或中性的(原子和自由基)。在這一過程中,電漿通過與被蝕刻材料元素之間的化學反應,在室溫下生成可揮發的蝕刻產物。最終,轟擊元素的原子嵌入到目標表面或表面以下,從而改變目標的物理性質。[1]
機制
[編輯]電漿是一種高能態,在此狀態下可以發生多種過程。這些過程由電子和原子引發。要形成電漿,需要加速電子以使其獲得能量。高能電子通過碰撞將能量傳遞給原子。由於這些碰撞,可以發生三種不同的過程:[2]
電漿中存在不同的類型,如電子、離子、自由基和中性粒子。這些類型不斷交互作用。在電漿蝕刻過程中,會發生兩個過程:[3]
- 化學物質的生成
- 與周圍表面的交互作用
沒有電漿時,這些過程都需要在更高溫度下進行。可以通過不同方式改變電漿化學成分,以獲得不同種類的電漿蝕刻或沉積。一種形成電漿的方法是使用頻率為13.56 MHz的射頻激勵,該頻率被分配用於此應用的ISM頻段。
系統的工作模式會隨操作壓力變化而改變,反應室結構的不同也會影響電漿的行為。在簡單情況下,電極結構對稱,樣品放置在接地電極上。
對工藝的影響
[編輯]成功開發複雜蝕刻工藝的關鍵在於找到合適的氣體蝕刻化學成分,以與待蝕刻材料形成可揮發產物,如下表所示。對於一些難以蝕刻的材料(如磁性材料),只有在提高晶片溫度時才能獲得足夠的揮發性。影響電漿工藝的主要因素包括:
- 電子源
- 壓力
- 氣體種類
- 真空

表面交互作用
[編輯]產物的反應取決於不同原子、光子或自由基形成化合物的機率。表面溫度也會影響產物的反應。當物質能夠聚集並以凝聚層形式到達表面時發生吸附,該凝聚層厚度各異(通常是一層薄薄的氧化層)。可揮發產物在電漿相中脫附,並在材料與樣品壁交互作用時促進蝕刻過程。如果產物不可揮發,將在材料表面形成薄膜。影響樣品電漿蝕刻能力的因素包括:[4]
電漿蝕刻可以改變表面接觸角,例如將其從親水性轉變為疏水性,或反之。據報道,氬電漿蝕刻可將接觸角從52°提高到68°,[5]而氧電漿蝕刻可將碳纖維增強聚合物的接觸角從52°降低到19°,用於骨板應用。電漿蝕刻還可使金屬表面粗糙度從數百納米降低至最低約3 nm。[6]
類型
[編輯]壓力會影響電漿蝕刻工藝。為了實現電漿蝕刻,反應室必須處於低壓狀態(低於100 Pa)。為了產生低壓電漿,必須對氣體進行電離。電離通過輝光放電實現。外部激勵源可提供高達30 kW的功率,且其頻率範圍從50 Hz(直流)到5–10 Hz(脈衝直流),以及射頻和微波頻段(MHz–GHz)。[2][7]
微波電漿蝕刻
[編輯]微波蝕刻使用微波頻段(MHz–GHz)的激勵源。以下示例展示了一種微波電漿蝕刻裝置:[8]

氫電漿蝕刻
[編輯]氫電漿蝕刻是一種利用氫氣進行電漿蝕刻的方法。實驗裝置示例如下:[9]

電漿蝕刻機
[編輯]電漿蝕刻機(或蝕刻工具)是一種用於生產半導體器件的設備。電漿蝕刻機利用高頻電場(通常為13.56 MHz)使工藝氣體(通常為氧氣或含氟氣體)電離並產生電漿。將晶圓置於蝕刻機中,首先通過真空泵系統將反應室內的空氣抽空,然後在低壓下引入工藝氣體,並使其發生電擊穿後形成電漿。
電漿約束
[編輯]工業電漿蝕刻機通常採用電漿約束技術,以實現可重複的蝕刻速率和精確的空間分布,並常用於RF電漿中。[10]一種約束電漿的方法是利用德拜層,這是電漿近表面的一層結構,類似於其他流體中的雙電層。例如,當槽狀石英部件上的德拜層厚度至少為槽寬的一半時,鞘層會封閉槽口並將電漿約束在內部,同時允許未帶電粒子通過。
應用
[編輯]電漿蝕刻目前廣泛應用於半導體材料的加工,用於電子器件的製造。可在半導體材料表面蝕刻出微小結構,以提高效率或增強在電子器件中的性能。[11]例如,電漿蝕刻可在矽表面刻出深溝槽,用於微機電系統,顯示出在微電子生產中的潛力。[11] 同樣,目前也在研究如何將該工藝調整至納米級別。[11]
氫電漿蝕刻在去除半導體表面的本徵氧化物方面表現出色,能留下潔淨且化學平衡的表面,適用於多種應用。[9]
氧電漿蝕刻可通過在感應耦合電漿/反應離子蝕刻(ICP/RIE)反應器中施加高偏壓,實現對單晶金剛石納米結構的各向異性深蝕刻。[12]另一方面,使用零偏壓氧電漿可實現C–H端基金剛石表面的各向同性終端化。[13]
集成電路
[編輯]電漿可用於在矽片上生長二氧化矽薄膜(使用氧電漿),也可使用含氟氣體去除二氧化矽。結合光刻,二氧化矽可選擇性塗敷或去除,以繪製電路走線。
為了形成集成電路,有必要對各層進行成型。這可以通過電漿蝕刻機完成。蝕刻前,在表面上沉積光刻膠,通過掩膜曝光並顯影。然後進行干法蝕刻,以獲得所需結構。工藝完成後,需要去除殘留光刻膠。這也在一種稱為灰化機的專用電漿蝕刻機中完成。[14]
干法蝕刻可對矽和III–V族半導體技術中使用的所有材料進行可重複且均勻的蝕刻。通過使用感應耦合電漿/反應離子蝕刻(ICP/RIE),即使是如金剛石等最堅硬的材料也能實現納米結構化。[15][16]
電漿蝕刻機也用於失效分析中的集成電路分層。
印刷電路板
[編輯]相關
[編輯]參考
[編輯]- ^ Plasma Etch - Plasma Etching. oxinst.com. [2010-02-04]. (原始內容存檔於January 3, 2011).
- ^ 2.0 2.1 Mattox, Donald M. Handbook of Physical Vapor Deposition (PVD) Processing. Westwood, New Jersey: Noyes Publication. 1998.
- ^ Coburn, J. W.; Winters, Harold F. Plasma etching—A discussion of mechanisms. Journal of Vacuum Science & Technology. 1979-03-01, 16 (2): 391–403. Bibcode:1979JVST...16..391C. ISSN 0022-5355. doi:10.1116/1.569958.
- ^ Coburn, J. W.; Winters, Harold F. Ion- and electron-assisted gas-surface chemistry—An important effect in plasma etching. Journal of Applied Physics. 1979-05-01, 50 (5): 3189–3196. Bibcode:1979JAP....50.3189C. ISSN 0021-8979. S2CID 98770515. doi:10.1063/1.326355.
- ^ Zia, A. W.; Wang, Y. -Q.; Lee, S. Effect of Physical and Chemical Plasma Etching on Surface Wettability of Carbon Fiber-Reinforced Polymer Composites for Bone Plate Applications. Advances in Polymer Technology. 2015, 34: n/a. doi:10.1002/adv.21480.
- ^ Wasy, A.; Balakrishnan, G.; Lee, S. H.; Kim, J. K.; Kim, D. G.; Kim, T. G.; Song, J. I. Argon plasma treatment on metal substrates and effects on diamond-like carbon (DLC) coating properties. Crystal Research and Technology. 2014, 49 (1): 55–62. Bibcode:2014CryRT..49...55W. S2CID 98549070. doi:10.1002/crat.201300171.
- ^ Bunshah, Rointan F. Deposition Technologies for Films and Coatings. New York: Noyes Publication. 2001.
- ^ Keizo Suzuki; Sadayuki Okudaira; Norriyuki Sakudo; Ichiro Kanomata. Microwave Plasma Etching. Japanese Journal of Applied Physics. Nov 11, 1977, 16 (11): 1979–1984. Bibcode:1977JaJAP..16.1979S. doi:10.1143/jjap.16.1979.
- ^ 9.0 9.1 Chang, R. P. H.; Chang, C. C.; Darac, S. Hydrogen plasma etching of semiconductors and their oxides. Journal of Vacuum Science & Technology. 1982-01-01, 20 (1): 45–50. Bibcode:1982JVST...20...45C. ISSN 0022-5355. doi:10.1116/1.571307
.
- ^ Ignition conditions for peripheral plasma in a grounded chamber connected to a dual frequency capacitive discharge (PDF). (原始內容 (PDF)存檔於2006-03-25).
- ^ 11.0 11.1 11.2 Cardinaud, Christophe; Peignon, Marie-Claude; Tessier, Pierre-Yves. Plasma etching: principles, mechanisms, application to micro- and nano-technologies. Applied Surface Science. Surface Science in Micro & Nanotechnology. 2000-09-01, 164 (1–4): 72–83. Bibcode:2000ApSS..164...72C. doi:10.1016/S0169-4332(00)00328-7.
- ^ Radtke, Mariusz; Nelz, Richard; Slablab, Abdallah; Neu, Elke. Reliable Nanofabrication of Single-Crystal Diamond Photonic Nanostructures for Nanoscale Sensing. Micromachines. 2019, 10 (11): 718. Bibcode:2019arXiv190912011R. PMC 6915366
. PMID 31653033. S2CID 202889135. arXiv:1909.12011
. doi:10.3390/mi10110718
.
- ^ Radtke, Mariusz; Render, Lara; Nelz, Richard; Neu, Elke. Plasma treatments and photonic nanostructures for shallow nitrogen vacancy centers in diamond. Optical Materials Express. 2019, 9 (12): 4716. Bibcode:2019OMExp...9.4716R. S2CID 203593249. arXiv:1909.13496
. doi:10.1364/OME.9.004716.
- ^ Hochtechnologie - Weltweit. [2025-05-24]. (原始內容存檔於2016-10-05). 已忽略文本「PVA TePla AG」 (幫助)
- ^ Radtke, Mariusz; Nelz, Richard; Slablab, Abdallah; Neu, Elke. Reliable Nanofabrication of Single-Crystal Diamond Photonic Nanostructures for Nanoscale Sensing. Micromachines (MDPI AG). 2019-10-24, 10 (11): 718. ISSN 2072-666X. PMC 6915366
. PMID 31653033. arXiv:1909.12011
. doi:10.3390/mi10110718
.
- ^ Radtke, Mariusz; Render, Lara; Nelz, Richard; Neu, Elke. Plasma treatments and photonic nanostructures for shallow nitrogen vacancy centers in diamond. Optical Materials Express (The Optical Society). 2019-11-21, 9 (12): 4716. Bibcode:2019OMExp...9.4716R. ISSN 2159-3930. arXiv:1909.13496
. doi:10.1364/OME.9.004716
.
- ^ Lee, Eung Suok; Park, Hae II; Baik, Hong Koo; Lee, Se-Jong; Song, Kie Moon; Hwang, Myung Keun; Huh, Chang Su. Air mesh plasma for PCB de-smear process
. Surface and Coatings Technology. 2003, 171 (1–3): 328–332 [2025-05-24]. doi:10.1016/S0257-8972(03)00295-0. (原始內容存檔於2023-12-15).