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等离子体蚀刻

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等离子体蚀刻是一种用于制造集成电路等离子体处理英语Plasma processing形式。它是将适当气体混合物的高能辉光放电(等离子体)高速脉冲喷射到样品上。等离子体源,称为蚀刻物质,可以是带电的(离子)或中性的(原子自由基)。在这一过程中,等离子体通过与被蚀刻材料元素之间的化学反应,在室温下生成可挥发的蚀刻产物。最终,轰击元素的原子嵌入到目标表面或表面以下,从而改变目标的物理性质[1]

机制

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等离子体是一种高能态,在此状态下可以发生多种过程。这些过程由电子和原子引发。要形成等离子体,需要加速电子以使其获得能量。高能电子通过碰撞将能量传递给原子。由于这些碰撞,可以发生三种不同的过程:[2]

等离子体中存在不同的类型,如电子、离子、自由基和中性粒子。这些类型不断相互作用。在等离子体蚀刻过程中,会发生两个过程:[3]

  • 化学物质的生成
  • 与周围表面的相互作用

没有等离子体时,这些过程都需要在更高温度下进行。可以通过不同方式改变等离子体化学成分,以获得不同种类的等离子体蚀刻或沉积。一种形成等离子体的方法是使用频率为13.56 MHz的射频激励,该频率被分配用于此应用的ISM频段

系统的工作模式会随操作压力变化而改变,反应室结构的不同也会影响等离子体的行为。在简单情况下,电极结构对称,样品放置在接地电极上。

对工艺的影响

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成功开发复杂蚀刻工艺的关键在于找到合适的气体蚀刻化学成分,以与待蚀刻材料形成可挥发产物,如下表所示。对于一些难以蚀刻的材料(如磁性材料),只有在提高晶片温度时才能获得足够的挥发性。影响等离子体工艺的主要因素包括:

  • 电子源
  • 压力
  • 气体种类
  • 真空

表面相互作用

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产物的反应取决于不同原子、光子或自由基形成化合物的几率。表面温度也会影响产物的反应。当物质能够聚集并以凝聚层形式到达表面时发生吸附,该凝聚层厚度各异(通常是一层薄薄的氧化层)。可挥发产物在等离子相中脱附,并在材料与样品壁相互作用时促进蚀刻过程。如果产物不可挥发,将在材料表面形成薄膜。影响样品等离子体蚀刻能力的因素包括:[4]

等离子体蚀刻可以改变表面接触角,例如将其从亲水性转变为疏水性,或反之。据报道,氩等离子体蚀刻可将接触角从52°提高到68°,[5]而氧等离子体蚀刻可将碳纤维增强聚合物的接触角从52°降低到19°,用于骨板应用。等离子体蚀刻还可使金属表面粗糙度从数百纳米降低至最低约3 nm。[6]

类型

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压力会影响等离子体蚀刻工艺。为了实现等离子体蚀刻,反应室必须处于低压状态(低于100 Pa)。为了产生低压等离子体,必须对气体进行电离。电离通过辉光放电实现。外部激励源可提供高达30 kW的功率,且其频率范围从50 Hz(直流)到5–10 Hz(脉冲直流),以及射频和微波频段(MHz–GHz)。[2][7]

微波等离子体蚀刻

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微波蚀刻使用微波频段(MHz–GHz)的激励源。以下示例展示了一种微波等离子体蚀刻装置:[8]

一台微波等离子体蚀刻装置。微波频率为2.45 GHz,由磁控管产生,通过矩形和圆形波导放电。放电区位于内径66 mm的石英管中,管外缠绕两组线圈和一块永磁体,用以产生磁场并引导等离子体。

氢等离子体蚀刻

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氢等离子体蚀刻是一种利用氢气进行等离子体蚀刻的方法。实验装置示例如下:[9]

一根以30 MHz射频激励的石英管,外绕线圈,功率密度为2–10 W/cm³。室内充入H₂气体,气压范围为100-300 μm。

等离子体蚀刻机

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等离子体蚀刻机(或蚀刻工具)是一种用于生产半导体器件的设备。等离子体蚀刻机利用高频電場(通常为13.56 MHz)使工艺气体(通常为氧气或含气体)电离并产生等离子体。将晶圓置于蚀刻机中,首先通过真空泵系统将反应室内的空气抽空,然后在低压下引入工艺气体,并使其发生電擊穿后形成等离子体。

等离子体约束

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工业等离子体蚀刻机通常采用等离子体约束技术,以实现可重复的蚀刻速率和精确的空间分布,并常用于RF等离子体中。[10]一种约束等离子体的方法是利用德拜层英语Debye sheath,这是等离子体近表面的一层结构,类似于其他流体中的双电层。例如,当槽状石英部件上的德拜层厚度至少为槽宽的一半时,鞘层会封闭槽口并将等离子体约束在内部,同时允许未带电粒子通过。

应用

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等离子体蚀刻目前广泛应用于半导体材料的加工,用于电子器件的制造。可在半导体材料表面蚀刻出微小结构,以提高效率或增强在电子器件中的性能。[11]例如,等离子体蚀刻可在硅表面刻出深沟槽,用于微机电系统,显示出在微电子生产中的潜力。[11] 同样,目前也在研究如何将该工艺调整至纳米级别。[11]

氢等离子体蚀刻在去除半导体表面的本征氧化物方面表现出色,能留下洁净且化学平衡的表面,适用于多种应用。[9]

氧等离子体蚀刻可通过在感应耦合等离子体/反应离子蚀刻(ICP/RIE)反应器中施加高偏压,实现对单晶金刚石纳米结构的各向异性深蚀刻。[12]另一方面,使用零偏压氧等离子体可实现C–H端基金刚石表面的各向同性终端化。[13]

集成电路

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等离子体可用于在硅片上生长二氧化硅薄膜(使用氧等离子体),也可使用含氟气体去除二氧化硅。结合光刻,二氧化硅可选择性涂敷或去除,以绘制电路走线。

为了形成集成电路,有必要对各层进行成型。这可以通过等离子体蚀刻机完成。蚀刻前,在表面上沉积光刻胶,通过掩膜曝光并显影。然后进行干法蚀刻,以获得所需结构。工艺完成后,需要去除残留光刻胶。这也在一种称为灰化机英语asher (machine)的专用等离子体蚀刻机中完成。[14]

干法蚀刻可对硅和III–V族半导体技术中使用的所有材料进行可重复且均匀的蚀刻。通过使用感应耦合等离子体/反应离子蚀刻(ICP/RIE),即使是如金刚石等最坚硬的材料也能实现纳米结构化。[15][16]

等离子体蚀刻机也用于失效分析中的集成电路分层。

印刷电路板

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等离子体用于蚀刻印刷电路板,包括去污通孔。[17]

相关

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参考

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  1. ^ Plasma Etch - Plasma Etching. oxinst.com. [2010-02-04]. (原始内容存档于January 3, 2011). 
  2. ^ 2.0 2.1 Mattox, Donald M. Handbook of Physical Vapor Deposition (PVD) Processing. Westwood, New Jersey: Noyes Publication. 1998. 
  3. ^ Coburn, J. W.; Winters, Harold F. Plasma etching—A discussion of mechanisms. Journal of Vacuum Science & Technology. 1979-03-01, 16 (2): 391–403. Bibcode:1979JVST...16..391C. ISSN 0022-5355. doi:10.1116/1.569958. 
  4. ^ Coburn, J. W.; Winters, Harold F. Ion- and electron-assisted gas-surface chemistry—An important effect in plasma etching. Journal of Applied Physics. 1979-05-01, 50 (5): 3189–3196. Bibcode:1979JAP....50.3189C. ISSN 0021-8979. S2CID 98770515. doi:10.1063/1.326355. 
  5. ^ Zia, A. W.; Wang, Y. -Q.; Lee, S. Effect of Physical and Chemical Plasma Etching on Surface Wettability of Carbon Fiber-Reinforced Polymer Composites for Bone Plate Applications. Advances in Polymer Technology. 2015, 34: n/a. doi:10.1002/adv.21480. 
  6. ^ Wasy, A.; Balakrishnan, G.; Lee, S. H.; Kim, J. K.; Kim, D. G.; Kim, T. G.; Song, J. I. Argon plasma treatment on metal substrates and effects on diamond-like carbon (DLC) coating properties. Crystal Research and Technology. 2014, 49 (1): 55–62. Bibcode:2014CryRT..49...55W. S2CID 98549070. doi:10.1002/crat.201300171. 
  7. ^ Bunshah, Rointan F. Deposition Technologies for Films and Coatings. New York: Noyes Publication. 2001. 
  8. ^ Keizo Suzuki; Sadayuki Okudaira; Norriyuki Sakudo; Ichiro Kanomata. Microwave Plasma Etching. Japanese Journal of Applied Physics. Nov 11, 1977, 16 (11): 1979–1984. Bibcode:1977JaJAP..16.1979S. doi:10.1143/jjap.16.1979. 
  9. ^ 9.0 9.1 Chang, R. P. H.; Chang, C. C.; Darac, S. Hydrogen plasma etching of semiconductors and their oxides. Journal of Vacuum Science & Technology. 1982-01-01, 20 (1): 45–50. Bibcode:1982JVST...20...45C. ISSN 0022-5355. doi:10.1116/1.571307可免费查阅. 
  10. ^ Ignition conditions for peripheral plasma in a grounded chamber connected to a dual frequency capacitive discharge (PDF). (原始内容 (PDF)存档于2006-03-25). 
  11. ^ 11.0 11.1 11.2 Cardinaud, Christophe; Peignon, Marie-Claude; Tessier, Pierre-Yves. Plasma etching: principles, mechanisms, application to micro- and nano-technologies. Applied Surface Science. Surface Science in Micro & Nanotechnology. 2000-09-01, 164 (1–4): 72–83. Bibcode:2000ApSS..164...72C. doi:10.1016/S0169-4332(00)00328-7. 
  12. ^ Radtke, Mariusz; Nelz, Richard; Slablab, Abdallah; Neu, Elke. Reliable Nanofabrication of Single-Crystal Diamond Photonic Nanostructures for Nanoscale Sensing. Micromachines. 2019, 10 (11): 718. Bibcode:2019arXiv190912011R. PMC 6915366可免费查阅. PMID 31653033. S2CID 202889135. arXiv:1909.12011可免费查阅. doi:10.3390/mi10110718可免费查阅. 
  13. ^ Radtke, Mariusz; Render, Lara; Nelz, Richard; Neu, Elke. Plasma treatments and photonic nanostructures for shallow nitrogen vacancy centers in diamond. Optical Materials Express. 2019, 9 (12): 4716. Bibcode:2019OMExp...9.4716R. S2CID 203593249. arXiv:1909.13496可免费查阅. doi:10.1364/OME.9.004716. 
  14. ^ Hochtechnologie - Weltweit. [2025-05-24]. (原始内容存档于2016-10-05).  已忽略文本“PVA TePla AG” (帮助)
  15. ^ Radtke, Mariusz; Nelz, Richard; Slablab, Abdallah; Neu, Elke. Reliable Nanofabrication of Single-Crystal Diamond Photonic Nanostructures for Nanoscale Sensing. Micromachines (MDPI AG). 2019-10-24, 10 (11): 718. ISSN 2072-666X. PMC 6915366可免费查阅. PMID 31653033. arXiv:1909.12011可免费查阅. doi:10.3390/mi10110718可免费查阅. 
  16. ^ Radtke, Mariusz; Render, Lara; Nelz, Richard; Neu, Elke. Plasma treatments and photonic nanostructures for shallow nitrogen vacancy centers in diamond. Optical Materials Express (The Optical Society). 2019-11-21, 9 (12): 4716. Bibcode:2019OMExp...9.4716R. ISSN 2159-3930. arXiv:1909.13496可免费查阅. doi:10.1364/OME.9.004716可免费查阅. 
  17. ^ Lee, Eung Suok; Park, Hae II; Baik, Hong Koo; Lee, Se-Jong; Song, Kie Moon; Hwang, Myung Keun; Huh, Chang Su. Air mesh plasma for PCB de-smear process需要付费订阅. Surface and Coatings Technology. 2003, 171 (1–3): 328–332 [2025-05-24]. doi:10.1016/S0257-8972(03)00295-0. (原始内容存档于2023-12-15).