在測度論中,法圖引理說明了一個函數列的下極限的積分(在勒貝格意義上)和其積分的下極限的不等關係。法圖引理的名稱來源於法國數學家皮埃爾·法圖(Pierre Fatou),被用來證明測度論中的法圖-勒貝格定理和勒貝格控制收斂定理。
設
為一個測度空間,
是一個實值的可測正值函數列。那麼:

其中的函數極限是在逐點收斂的意義上的極限,函數的取值和積分可以是無窮大。
定理的證明基於單調收斂定理(非常容易證明)。設
為函數列
的下極限。對每個正整數
,逐點定義下極限函數:

於是函數列
單調遞增並趨於
。
任意
,我們有
,因此

於是

據此,由單調收斂定理以及下極限的定義,就有:

令
為測度空間
中的一列可測函數,函數的值域為擴展實數(包括無窮大)。如果存在一個在
上可積的正值函數
,使得對所有的
都有
,那麼

這裡
只需弱可積,即
。
證明:對函數列
應用法圖引理即可。
法圖引理不僅對取正值的函數列成立,在一定限制條件下,可以擴展到任意的實值函數。令
為測度空間
中的一列可測函數,函數的值域為擴展實數(包括無窮大)。如果存在一個在
上可積的正值函數
,使得對所有的
都有
,那麼
證明:對函數列
應用法圖引理即可。
在以上的條件下,如果函數列在
上μ-幾乎處處逐點收斂到一個函數
,那麼

證明:
是函數列的極限,因此自然是下極限。此外,零測集上的差異對於積分值沒有影響。
如果函數列在
上依測度收斂到
,那麼上面的命題仍然成立。
證明:存在
的一個子列使得

這個子列仍然依測度收斂到
,於是又存在這個子列的一個子列在
上μ-幾乎處處逐點收斂到
,於是命題成立。
- H.L. Royden, "Real Analysis", Prentice Hall, 1988.