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單粒子翻轉

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單粒子翻轉英文縮寫SEUSingle-Event Upsets),航天電子學術語,原因是在空間環境下存在着大量高能帶電粒子,計算機中的CMOS電子元器件受到地球磁場宇宙射線等照射,引起電位狀態的跳變,「0」變成「1」,或者「1」變成「0」,但一般不會造成器件的物理性損傷。

單粒子翻轉指標用單粒子翻轉率來描述,單粒子翻轉率是器件每天每位發生單粒子翻轉的概率,計算質子單粒子翻轉率的一般性公式:

其中:為閾值能量,單位MeV;為質子單粒子翻轉截面積,單位為質子微分流量。