统计过程控制

管制图的例子，在微电子晶圆制程中追踪ICP等离子蚀刻的蚀刻率。在时间序列资料中也标示平均值以及其±5%的上下限。更复杂的管制图会再标示管制界限（control limit）和规格界限（spec limit），以说明需进行的对策。

统计流程管理（Statistical process control，缩写SPC）是品质管理的一种方法，该方法采用管制图统计方法来监测和管理相关流程，以助于确保流程高效运行，生产出更多符合规范的产品，减少浪费（返工或报废）。统计流程管理可以应用于可以测量“合格产品”（符合规格的产品）输出的任何过程。 关键工具包括趋势图、控制图，对持续改进的关注以及实验设计。当代生产线中已在运用统计过程控制。美国贝尔实验室科学家沃特·安德鲁·休哈特是该过程的发明者。